LJ30A3-10-J標準接近開關CR18-8DN包括利用電磁感應引起的檢測對象的金屬體中產生的渦電流的方式
更新時間:2024-11-19
LJ30A3-10-J標準接近開關CR18-8DN
LJ30A3-10-J標準接近開關CR18-8DN
接近傳感器,是代替限位開關等接觸式檢測方式。以無需接觸檢測對象進行檢測為目的的傳感器的總稱。能檢測對象的移動信息和存在 信息轉換為電器信號,在換為電氣信號的檢測方式中,包括利用電磁感應引起的檢測對象的金屬體中產生的渦電流的方式,捕測體的接近 引起的電氣信號的容量變化的方式、利石和引導開關的方式。在JIS規格中,根據IEC60947-5-2的非接觸式位置檢測用開關,制定了JIS規格 (JISC8201-5-2低壓開關裝置、第5控制電路機器及開關元件、第2節接近開關)
LJ30A3-10-J/EDZ標準接近開關
接近傳感器,是代替限位開關等接觸式檢測方式。以無需接觸檢測對象進行檢測為目的的傳感器的總稱。能檢測對象的移動信息和存在 信息轉換為電器信號,在換為電氣信號的檢測方式中,包括利用電磁感應引起的檢測對象的金屬體中產生的渦電流的方式,捕測體的接近 引起的電氣信號的容量變化的方式、利石和引導開關的方式。在JIS規格中,根據IEC60947-5-2的非接觸式位置檢測用開關,制定了JIS規格 (JISC8201-5-2低壓開關裝置、第5控制電路機器及開關元件、第2節接近開關)
SMAPH-BJT30L接近開關
SMAPH-BJT30P接近開關
SMAPH-JFT18A接近開關
SMAPH-JFT30A接近開關
SMAPH-BJT12P接近開關
SMAPH-BJT18L接近開關
SMNPH-BJT30P接近開關
SMNPH-JFT30A接近開關
SMDPH-BJT30N接近開關
SMDPH-JFT30B接近開關
SMAPH-BJT30N接近開關
SMAPH-JFT12R接近開關
SMAPH-JFT18B接近開關
SMAPH-JFT30B接近開關
SMDPH-BJT18N接近開關
SMDPH-BJT18P接近開關
SMAPH-BJT18N接近開關
SMDPH-BJT30L接近開關
SMAPH-BJT12N接近開關
SMDPH-BJT30P接近開關
SMNPH-BJT30N接近開關
SMNPH-JFT30B接近開關
SMAPH-TA18C接近開關
SMDPH-BJT18L接近開關
SMAPH-BJT12L接近開關
SMAPH-BJT18P接近開關
IM12-08NPS-ZCK,6025686接近開關
BI2-M12-AP6X-H1141接近開關接近開關
E2E-X20MD1-Z 2M接近開關
E2E-X14MD2-Z 2M接近開關
E2E-X4MD2-Z 2M接近開關
E2E-X18ME1-Z 2M接近開關
E2E-X5ME2-Z 2M接近開關
SE5640HL接近開關
BES516-325-G-S4-C接近開關
TL-Q5MD1 2M BY OMC接近開關
SMWHF-D8G接近開關
SMWHF-D6G接近開關
SMWHF-D7G接近開關
JBL-NST2-I(II)-C接近開關
JBL-NST1-12-30C接近開關
SBN20-U2/K2D接近開關
SIES-8M-PO-24V-K-7.5-OE,551391接近開關
830100469接近開關
021-63510720
上海市臨洮路
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